BW-40/30系列

半导体分立器件/光耦测试系统

博微BW-40/30系列半导体分立器件测试系统是针对Si/SiC/GaN材料的IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦及IC半导体器件（导通、关断、击穿、漏电、增益）等直流静态参数综合测试平台。

【基于Lab View开发平台】

【高压源2500V/高流源350A/车规级】

【16位ADC.采样速率≤1m/s】

【四线开尔文检测/极性自动识别】

【Prober/Handler接口可选/Rs232】

【可与分选机/探针台/编带机联机】

【高速水银继电器/测试速率高】

详情登录:www.sxbwdt.cn

该测试系统基于半导体Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体产品静态动态参数测试、可靠性测试、雪崩浪涌测试以及热特性测试等；广泛应用于科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等领域的封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试等；应用于实验室及生产线的来料检验、器件选型、数据分析、研发评估等。

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